polski   English  
 

dLibra Digital Library

polski   English  

Edition

Export metadata

oai   rdf   ris   bibtex

Favourite positions

Tagging
just private
Please login or register to use additional features!

Save this address

  • Add to bookmarks
  • bookmarks

Edition description

Naprężenia własne a rozkład defektów krystalograficznych w płytkach Cz-Si po technologii CMOS

Show publication content! Show publication content!
    Creator:
    • Piotrowski, T. ; Jung, W.
    Type:
    • artykuł
    Language:
    • pol
 
This page is maintained by : Institution 1, Institution 2
This page is based on framework dLibra 5.7.0