No JavaScript support!
To take full advantage of this digital library, please verify if your browser supports JavaScript.
loading...
Polish English
Elektryczne własności cienkich warstw p-pięciofenylenuElektryczne własności cienkich warstw p-pięciofenylenu
Find similar objects | Add to bibliography
Mechanizmy przewodnictwa elektrycznego w cienkich warstwach p-trójfenyluMechanizmy przewodnictwa elektrycznego w cienkich warstwach p-trójfenylu
Spis treściSpis treści
Curve fitting methods in the analysis of thermally stimulated relaxation phenomenaCurve fitting methods in the analysis of thermally stimulated relaxation phenomena
Recent advancements in the theoretical description of thermally stimulated relaxation phenomenaRecent advancements in the theoretical description of thermally stimulated relaxation phenomena
Nanostructured porous silicon: Properties modificationNanostructured porous silicon: Properties modification
Spectrally resolved thermoluminescence measurements in poly(N-vinylcarbazole) blendsSpectrally resolved thermoluminescence measurements in poly(N-vinylcarbazole) blends
Space-charge-perturbed and space-charge-limited current transients in disordered solidsSpace-charge-perturbed and space-charge-limited current transients in disordered solids
Gęstość prądu całkowitego w półprzewodniku niejednorodnym ze zmienną przerwą energetyczną w obecności nośników nadmiarowych i gradientu temperaturyGęstość prądu całkowitego w półprzewodniku niejednorodnym ze zmienną przerwą energetyczną w obecności nośników nadmiarowych i gradientu temperatury
Funkcje rozkładu radialnego dla półprzewodników amorficznych As-Ge-SFunkcje rozkładu radialnego dla półprzewodników amorficznych As-Ge-S
The investigation of the growth morphology of naphthalene crystalsThe investigation of the growth morphology of naphthalene crystals
Energy dissipation mechanism in oxides with garnet structure doped 4f-5d transitions rare earth ionsEnergy dissipation mechanism in oxides with garnet structure doped 4f-5d transitions rare earth ions
Naprężenia własne a rozkład defektów krystalograficznych w płytkach Cz-Si po technologii CMOSNaprężenia własne a rozkład defektów krystalograficznych w płytkach Cz-Si po technologii CMOS
Przejścia fazowe w szkle metalicznym Co66Ni12Si9B13Przejścia fazowe w szkle metalicznym Co66Ni12Si9B13
Absorpcja wodoru oraz krystalograficzne charakterystyki stopu LaNi4.4Zn0.6Absorpcja wodoru oraz krystalograficzne charakterystyki stopu LaNi4.4Zn0.6